標(biāo)題：球形支點(diǎn)可減少因微粒引起誤差-測(cè)微顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-8-17 6:49:29
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正文:
球形支點(diǎn)可減少因微粒引起誤差-測(cè)微顯微鏡
常用的手動(dòng)測(cè)微計(jì)可直接讀至千分之一英寸，如裝有微調(diào)可
讀至萬分之一英寸.雖然這些儀器有不足之處，但仍適用于測(cè)量
薄片的厚度.它們有二個(gè)主要缺陷:一是可能弄斷易碎的切片，
二是承物板(直徑一般近似于1/4英寸)上面的灰塵或砂粒也可能算
入測(cè)量的厚度中，改用球形支點(diǎn)可減少因微粒引起的問題(但因減
小了接觸面積卻增加了機(jī)械損傷樣品的可能性).
一個(gè)較好的辦法是把度盤式指示表裝在一個(gè)平坦工作臺(tái)面
上，臺(tái)上有一個(gè)對(duì)準(zhǔn)指示表的小球形突出物，球型觸點(diǎn)只突
出臺(tái)面幾個(gè)密耳，這樣對(duì)于一般尺寸的切片，由于薄片不垂
直于儀器中心線所產(chǎn)生的誤差便可以略而不計(jì).度盤式指示
表為了放大讀數(shù)裝有齒輪組并且是彈簧承載的，不過這種
儀器上的負(fù)載通常比手動(dòng)測(cè)微計(jì)小.
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5932.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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