標(biāo)題：測礦物成分、顆粒形狀用哪種顯微鏡型號
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-11-5 23:42:58
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正文:
測礦物成分、顆粒形狀用哪種顯微鏡型號
在同一種巖石中，亞組構(gòu)的圖解隨所測礦物成分、顆粒形狀
及其定向的不同而不同。在凱里居特巖漿雜巖體南部的花崗閃長巖
中，斜長石的C軸組合成十分清楚的極密，顯示出線理的特征
而面的法線極點(diǎn)也較集中，它們反映了面狀構(gòu)造的存在。
形狀也有決定性作用:同一標(biāo)本的黑云母極性相對分散于斜長石
極密點(diǎn)周圍:黑云母片在斜長石C軸反映出來的線理周圍有一種
共帶排列的趨勢。
因此，斜長石和黑云母的方向構(gòu)成了花崗閃長巖中面狀和線狀
構(gòu)造的特征。
石英的方向則完全不同:軸極點(diǎn)呈一小畫分布，極
密點(diǎn)恰與云母極密點(diǎn)相吻合。石英軸方向的這種不定
性在巖石線狀結(jié)構(gòu)的周圍形成一個(gè)鈍角錐面，幾乎垂直于線狀構(gòu)
造，此外，黑云母片看來有助于石英的結(jié)晶。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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