標(biāo)題：電子顯微鏡可以放大10000倍來測定光學(xué)平晶的表面
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-8-16 18:19:59
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正文:
電子顯微鏡可以放大10000倍來測定光學(xué)平晶的表面
用放大10000倍來測定有缺陷的光學(xué)平晶的表面，
可以看到圖形的再現(xiàn)性的誤差在0.1微米以下。
隨后，在光潔度為0.3微米的拋光表面的同一位置上，
以縱向放大倍率放大7000倍、橫向放大倍率放大100倍
測定二次。
它的測定結(jié)果，畫在同一張感光紙上，它的斷面形狀曲
線的記錄清楚地顯示出再現(xiàn)性是良好的。
而且，這個記錄圖形與用顯微干涉計求得的同樣
資料的同一位置的斷面形狀曲線相比較，顯然它們
的波形沒有顯著的差別。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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