標題：硅芯片試樣檢測實驗顯微鏡- 硅晶片表面粗糙度
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-10-26 0:01:31
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正文:
碳、硅含量皆太高時
若碳、硅含量皆高于目標值時，通常加入廢鋼料，以降低碳、硅含量。
范例：
現(xiàn)有一爐 2 噸鐵水，其目標成份為：碳 3.6％，硅 1.8％。目前經碳當量測
定儀測得其成份為：碳 3.8％，硅 2.0％，請問要再加入多少廢鋼，才能符合目
標值（廢鋼之含碳量為 0.2％）。
解答：
(一)因廢鋼中不含硅量，故可從目標之硅量著手，進而計算出加入之廢鋼
量。假設欲達目標硅量，所需之總鐵水量為 Xkg，則
X×1.8％＝2000×2.0％ （因硅量不因廢鋼加入而增加）
➾X＝2000×2.0％ ÷1.8％
≒2222kg
即尚須加入 2222kg-2000kg=222kg 之廢鋼，方能符合硅之目標值。
(二)現(xiàn)在，若加入廢鋼 222kg 時，硅量可達目標值，但碳含量卻不知是否
符合目標值，因此，必須加以計算。
(1)目前爐內之碳量為：
2000kg×3.8％=76kg …………(1)
若加入廢鋼 222kg 于電爐內時，其碳量為：（廢鋼之碳含量為 0.2％）
76kg+222×0.2％=76.444kg…………(2)
因此，加入廢鋼后之碳含量將變?yōu)?/div>
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
(76.444/2222)×100％≒3.44％…………(3)
所以由(3)式知加入廢鋼后，碳含量反而低于目標值，因此，必須再加
入加碳劑調整之。（依 40 頁之范例計算之）
2222kg/爐×（3.6–3.44）％≒35.5kg
35.5kg÷90％≒39.4kg
(三)經由上述計算結果，必須加入廢鋼 222kg 及加碳劑 39.4kg，方能調整
鐵水成份于目標值內
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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