標(biāo)題：光學(xué)元件/鏡組檢測(cè)與測(cè)量微小工件專業(yè)顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-10-9 17:17:09
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正文:
光學(xué)元件/鏡組檢測(cè)設(shè)備大廠，為測(cè)試與量測(cè)儀器及系統(tǒng)專業(yè)公司，
可提供光學(xué)鏡片組裝對(duì)心、光學(xué)鏡頭焦距、MTF 像質(zhì)檢測(cè)、各種光學(xué)像差檢測(cè)機(jī)臺(tái)，
波長(zhǎng)包括紫外線、可見光、紅外線等波段。特別是光學(xué)鏡頭成像品質(zhì)檢測(cè)所需的
擁有豐富的機(jī)臺(tái)設(shè)計(jì)與軟件分析能力。并可依客戶需求，
提供光電產(chǎn)品工程開發(fā)的設(shè)計(jì)與技術(shù)諮詢、光學(xué)檢測(cè)技術(shù)、及光電系統(tǒng)整合技術(shù)服務(wù)。
主要檢測(cè)能量包括：(a)透鏡元件檢測(cè)：可測(cè)量有效焦距(EFF)、后焦距(BFL)、F-數(shù)
(F-number)、入瞳與出瞳直徑(Entrance & Exit Pupil Diameters)、及各種像差；
(b)系統(tǒng)像質(zhì)檢測(cè)：可測(cè)量 MTF、對(duì)比度、線性度、雜散光等；(c)紅外系統(tǒng)檢測(cè)：可測(cè)量最小可
解析溫差(Minimum Resolvable Temperature Difference，MRTD)、最小可偵測(cè)溫差
(Minimum Detectable Temperature Difference，MDTD)、等效雜訊溫差(Noise Equivalent
Temperature Difference，NEDT)；(d)其它檢測(cè)：LED 功率與光譜、紫外至紅外波段穿透
率、及各波段照明光度與色度檢測(cè)等
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/4770.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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