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儀器價(jià)格表分類目錄
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  1. ①新款升級(jí)為采用平場(chǎng)消色差光學(xué)系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng),落射照明系統(tǒng)中設(shè)計(jì)防反射結(jié)構(gòu),有效防止反射光干擾成像光線,從而使升級(jí)款成像更清晰、視場(chǎng)襯度更好。②工作臺(tái)、光強(qiáng)與粗微調(diào)的低位操作,使用更舒適

  2. ①新款升級(jí)為采用平場(chǎng)消色差光學(xué)系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng),落射照明系統(tǒng)中設(shè)計(jì)防反射結(jié)構(gòu),有效防止反射光干擾成像光線,從而使升級(jí)款成像更清晰、視場(chǎng)襯度更好。②工作臺(tái)、光強(qiáng)與粗微調(diào)的低位操作,提高了使用的舒…

  3. 廣泛應(yīng)用于應(yīng)用于教學(xué)科研金相分析、半導(dǎo)體硅晶片檢測(cè)、地址礦物分析、精密工程測(cè)量等領(lǐng)域。也可應(yīng)用于電子、光纖、紡織、印刷及微顆粒、粉末、同時(shí)也可用于食品安全評(píng)估、醫(yī)學(xué)研究地質(zhì)研究等。是科研、教學(xué)、生產(chǎn)的…

  4. 廣泛應(yīng)用于應(yīng)用于教學(xué)科研金相分析、半導(dǎo)體硅晶片檢測(cè)、地址礦物分析、精密工程測(cè)量等領(lǐng)域。也可應(yīng)用于電子、光纖、紡織、印刷及微顆粒、粉末、同時(shí)也可用于食品安全評(píng)估、醫(yī)學(xué)研究地質(zhì)研究等。是科研、教學(xué)、生產(chǎn)的…

  5. 在整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)內(nèi),對(duì)涉及成像質(zhì)量的所有組件高級(jí)配置,采用先進(jìn)的無(wú)限遠(yuǎn)雙重色差校正光學(xué)技術(shù);適用于金屬鋼鐵,化工材料行業(yè)科研,質(zhì)檢和質(zhì)控部門等研究,反射光可實(shí)現(xiàn)明場(chǎng),暗場(chǎng),偏光,微分干涉,熒光觀察功能,透射光可實(shí)…

  6. 適用于金屬鋼鐵,化工材料行業(yè)科研,質(zhì)檢和質(zhì)控部門等研究,反射光可實(shí)現(xiàn)明場(chǎng),暗場(chǎng),偏光,微分干涉,熒光觀察功能,透射光可實(shí)現(xiàn)明場(chǎng),暗場(chǎng),偏光,微分干涉觀察功能,可接CCD相機(jī)配合圖像分析軟件進(jìn)行材料分析。

  7. 全新研發(fā)豪華配置12XB-PC,搭配U-DICR微分干涉組件,可以將明場(chǎng)觀察下無(wú)法檢測(cè)的細(xì)微高低差,轉(zhuǎn)化為高對(duì)比度的明暗差并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來(lái),如LCD導(dǎo)電粒子,精密磁盤表面劃痕等。

  8. 4XC對(duì)于外形不規(guī)則或較大的試樣也可進(jìn)行顯微鏡觀察,倒置式的儀器設(shè)計(jì),操作時(shí)試樣觀察表面向下,并與工作臺(tái)面重合,而對(duì)試樣的高度和平行度無(wú)要求,適合于外形不規(guī)則或較大的試樣。

  9. WF10X(Φ22)大視野目鏡,平場(chǎng)無(wú)限遠(yuǎn)系統(tǒng)金相物鏡。①采用了反射和透射兩種照明形式,并配有偏光裝置。②在反射光照明下可進(jìn)行明暗場(chǎng)和偏光觀察,又可在透射光照明下作明場(chǎng)觀察。③可選配攝影裝置…

  10. 作為高級(jí)科研型金相顯微鏡,是針對(duì)半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、冶金工業(yè)開發(fā)的,可用來(lái)鑒別和分析各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu),可廣泛應(yīng)用在工廠或?qū)嶒?yàn)室進(jìn)行鑄件質(zhì)量的鑒定、原材料的檢驗(yàn)或?qū)Σ牧咸幚砗蠼稹?/p>

  11. 便攜式金相顯微鏡由于自帶垂直照明光源,可以很方便的用于現(xiàn)場(chǎng)或無(wú)法制作試樣時(shí)鑒別各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu)可廣泛的應(yīng)用在工廠,實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行鑄件質(zhì)量的鑒定,原材料檢驗(yàn)或?qū)Σ牧咸幚砗蠼鸾M織的研究分析等工作,也可…

  12. 便攜式金相顯微鏡由于自帶垂直照明光源,可以很方便的用于現(xiàn)場(chǎng)或無(wú)法制作試樣時(shí)鑒別各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu)可廣泛的應(yīng)用在工廠,實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行鑄件質(zhì)量的鑒定,原…

  13. 4XB金相顯微鏡用于鑒別和分析各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu),可廣泛應(yīng)用在工廠或?qū)嶒?yàn)室進(jìn)行鑄件質(zhì)量的鑒定,原材料的檢驗(yàn)或?qū)Σ牧咸幚砗蠼鹣嘟M織的研究分析等。

  14. 4XI金相顯微鏡用于鑒別和分析各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu),可廣泛應(yīng)用在工廠或?qū)嶒?yàn)室進(jìn)行鑄件質(zhì)量的鑒定,原材料的檢驗(yàn)或?qū)Σ牧咸幚砗蠼鹣嘟M織的研究分析等。

  15. 正置金相顯微鏡具有透、反二用功能,可作為金相、生物二用顯微鏡,用于觀察金屬、硅片等反射標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)?稍诠さV實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行金屬材料質(zhì)量檢驗(yàn),金屬零件處理后的金相組織分析

  16. 正置金相顯微鏡具有透、反二用功能,可作為金相、生物二用顯微鏡,用于觀察金屬、硅片等反射標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)?稍诠さV實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行金屬材料質(zhì)量檢驗(yàn),金屬零件處理后的金相組織分析

  17. 正置(明暗場(chǎng))芯片檢查顯微鏡廣泛的應(yīng)用于透明,半透明或不透明物質(zhì),比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡,都能有很好的成像效果。

  18. 產(chǎn)品用途大平臺(tái)檢測(cè)顯微鏡是專為IT行業(yè)大面積集成電路,晶片的質(zhì)量檢測(cè)而設(shè)計(jì)開發(fā)制造的,主體為正置式,三目鏡筒,比傳統(tǒng)的顯微鏡更適合于觀察。適用于電子、機(jī)械、化工、科研、院校等部門,以及金相技術(shù)檢驗(yàn)、失效…

  19. 102XB工業(yè)金相顯微鏡是針對(duì)半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、冶金工業(yè)需求而開發(fā)的。作為高級(jí)金相顯微鏡用戶在使用時(shí)能夠體驗(yàn)其超強(qiáng)性能,可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件/金屬/陶瓷…

  20. 9XB正置金相顯微鏡屬中型金相顯微鏡。本儀器造型新穎、性能良好、使用方便可靠,可供工廠、高等院校、科研機(jī)構(gòu)及電子工業(yè)部門作金相、礦相、晶體、微電子等方面的試驗(yàn)與分析研究之用。

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