主要用于平面類光學(xué)元件檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶（包括玻璃、金屬、陶瓷等），配備高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng)，精密平面標(biāo)準(zhǔn)鏡等一系列高精技術(shù)，通過優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)高精密平面光學(xué)元件的測量�！�
1、PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。2、根據(jù)近代光學(xué)的研究結(jié)果，光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現(xiàn)象是光的波動性的特性。
立式接觸式干涉儀JDS-1是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件借以高精度的比較方式的立式精密長度計(jì)量儀器。主要用于150mm以下塊規(guī)，亦可用作高精密度的長度和外徑的精密測量，是各級計(jì)量室的基本長度計(jì)量儀器之一。
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主要用于平面類光學(xué)元件檢定和校準(zhǔn)光學(xué)平晶（包括玻璃、金屬、陶瓷等），配備高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng)，精密平面標(biāo)準(zhǔn)鏡等一系列高精技術(shù)，通過優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，可實(shí)現(xiàn)高精密平面光學(xué)元件的測量�！�
￥：53000
1、PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。2、根據(jù)近代光學(xué)的研究結(jié)果，光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現(xiàn)象是光的波動性的特性。
￥：68000
立式接觸式干涉儀JDS-1是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件借以高精度的比較方式的立式精密長度計(jì)量儀器。主要用于150mm以下塊規(guī)，亦可用作高精密度的長度和外徑的精密測量，是各級計(jì)量室的基本長度計(jì)量儀器之一。