電子顯微鏡：電子顯微鏡(Electron microscopy)，一般簡(jiǎn)稱(chēng)為 EM，
依成像的過(guò)程和構(gòu)造的複雜性，可分為掃描式和穿透式電子顯微鏡等二大類(lèi)。
利用電子顯微鏡觀 察之標(biāo)本實(shí)必需經(jīng)特殊步驟處理后，方可觀察。另外，
還有掃描式原子探測(cè)顯微鏡，目前應(yīng)用于觀察 原子或分子的形狀。
由于這些設(shè)備昂貴，皆屬于國(guó) 家貴重儀器，且技術(shù)性高，需有專(zhuān)人處理。

1. 穿透式電子顯微鏡(TEM)： 以電子槍?zhuān)╡lectron gun）發(fā)射之電子束
（electron beam）為光源，由于該波長(zhǎng)極短，可以直接穿透 0.2 μm 的
標(biāo)本，使影像在 photographic plate 上呈現(xiàn) 2-D 的結(jié)構(gòu)。
2. 掃描式電子顯微鏡(SEM)： 以電子槍?zhuān)╡lectron gun）發(fā)射之一次電子束
（稱(chēng) primary electron beam）為光源，該波長(zhǎng)極短，再照 射在樣品標(biāo)本
表面（通常外表鍍金）后，會(huì)激發(fā)二次電子束（secondary electron beam）
反射，使影像為電子接收器接收，經(jīng)一連串影像放大后，會(huì)在螢?zāi)簧铣?br />現(xiàn) 3-D 的物體外表影像結(jié)構(gòu)。
圖4-6. 穿透式（左欄）及掃描式（右欄）電子顯微鏡及所觀察之影像

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