金相實(shí)驗(yàn)-試樣的選取方法？

選取試樣的基本原則就是選取的試樣要能代表被檢測(cè)的材料。統(tǒng)計(jì)學(xué)家所倡導(dǎo)的隨機(jī)選取試樣的方法，不被金相工作者認(rèn)同，實(shí)際操作中幾乎沒(méi)人採(cǎi)取隨機(jī)法進(jìn)行試樣的選取。現(xiàn)實(shí)工作中，對(duì)批量較大的諸如扣件或紐扣之類(lèi)的產(chǎn)品採(cǎi)取隨機(jī)法進(jìn)行試樣的選取則更適合。對(duì)大的鍛件或鑄件來(lái)說(shuō)，隨機(jī)選取試樣是不合適的，這將導(dǎo)致零部件的報(bào)廢，相反試樣的選取位置將根據(jù)便于取樣的原則進(jìn)行系統(tǒng)規(guī)劃，金相試樣的製備主要包括取樣及磨制，如果取樣的部位不具備典型性和代表性，其金相顯微鏡下檢查結(jié)果將得不到正確的結(jié)論，而且會(huì)造成錯(cuò)誤的判斷。金相試樣截取的方向、部位及數(shù)量應(yīng)根據(jù)金屬製造的方法、檢驗(yàn)的目的、技術(shù)條件或雙方協(xié)議的規(guī)定選擇有代表的部位進(jìn)行切取。

            許多材料規(guī)范都會(huì)指定取樣程式。在進(jìn)行失效分析時(shí)，試樣通常被切取用于研究失效的起源，金相顯微鏡下檢查高應(yīng)力區(qū)，金相顯微鏡下檢查二次裂紋等等，顯而易見(jiàn)隨機(jī)法此時(shí)是不適用的。

            通常，試樣都必須從較大的基體切取下來(lái)并進(jìn)行試樣製備，以便于金相顯微鏡下檢查。 這個(gè)過(guò)程可能會(huì)需要一種或幾種試樣切取方法。例如，在生產(chǎn)性的工廠入廠的棒料上，試樣可能首先用鋸床切取或無(wú)冷卻劑冷卻的砂輪切割機(jī)切取。切取的試樣隨后被送到實(shí)驗(yàn)室，切到更小的尺寸以便製備。所有的切取方法都會(huì)對(duì)試樣產(chǎn)生損傷，有些方法(如火焰切割或無(wú)冷卻劑冷卻的砂輪切割機(jī))將對(duì)試樣產(chǎn)生極大的損傷。傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室取樣程式採(cǎi)用砂輪切割機(jī)，對(duì)試樣造成的損傷最小，這種損傷隨被切取材料的不同及其自身熱特性和機(jī)械特性而變化。一般來(lái)說(shuō)，在車(chē)間直接在原始面上按照最終尺寸切取試樣用于金相金相顯微鏡下檢查是不明智的，因?yàn)閾p傷可能會(huì)大到影響金相顯微鏡下檢查。如果這樣的表面損傷影響到真實(shí)組織的顯示，那么必須將其去除。

          然而，由于研磨和拋光過(guò)程也會(huì)產(chǎn)生損傷，損傷隨磨拋介質(zhì)的減小而減少。試樣製備順序必須事先仔細(xì)計(jì)畫(huà)并嚴(yán)格執(zhí)行。另外，製備過(guò)程引起的人為外來(lái)物應(yīng)被認(rèn)定并排除其對(duì)金相顯微鏡下檢查的影響。由于許多金相金相顯微鏡下檢查要求不止一個(gè)試樣，所以多次切取的過(guò)程總是在進(jìn)行。一個(gè)典型的要求多個(gè)試樣的實(shí)驗(yàn)是金相顯微鏡下檢查鋼中夾雜。因?yàn)橐粋�(gè)試樣無(wú)法代表整個(gè)批次材料的狀況，所以取樣就變的很重要。

 試樣可用手鋸、砂輪切割機(jī)、顯微切片機(jī)、化學(xué)切割裝置、電火花切割機(jī)、剪切、鋸、刨、車(chē)、銑等截取，必要時(shí)也可用氣割法截取。硬而脆的金屬可以用錘擊法取樣。不論用哪種方法切割，均應(yīng)注意不能使試樣由于變形或過(guò)熱導(dǎo)致組織發(fā)生變化。對(duì)于使用高溫切割的試樣，必須除去熱影響部分。

 
      對(duì)晶粒度的金相顯微鏡下檢查，通常取一個(gè)試樣代表一批材料。這樣也許合適也許不合適，主要根據(jù)批次的特點(diǎn)而定，具體的根據(jù)工程要求作為指導(dǎo)。許多情況下，產(chǎn)品規(guī)范可能包含有嚴(yán)格的程序。晶粒組織有時(shí)觀察是并非等軸態(tài)，這可能是不恰當(dāng)?shù)娜�樣造成的，正確的取樣應(yīng)選擇“橫截面”即垂直于變形軸的平面。如果晶粒因工藝被拉長(zhǎng)，橫截面通常顯示出比真實(shí)晶粒較小的等軸態(tài)的晶粒。  

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