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金相顯微鏡類別及應用

信息分類:常見問題   作者:yiyi發(fā)布   時間:2011-10-16 21:17:32 將本頁加入收藏

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金相顯微鏡可分為正置金相顯微鏡與倒置金相顯微鏡二種:

1. 正置主要用于辨別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織和表面品質(zhì),為金屬物理學研究金相的重要儀器,凡鑄造、冶煉、熱處理的質(zhì)量研究、原材料之檢驗或處理前后的分析均可使用本儀器。

2. Inverted Metallurgical Microscope(倒置金像顯微鏡)
倒置顯微鏡由于物鏡在工作平臺下方,光源照明采用同軸光對于較大之物體之檢查,分析等,則此型顯微鏡較為適用。



電子顯微鏡的種類:
掃描穿隧電子顯微鏡 (Scanning Tunneling Microscope)

高分辨穿透式電子顯微鏡 (High Resolution Transmission Electron Microscope,HRTEM )

場發(fā)射鎗穿透式電子顯微鏡 (Field Emission Gun Transmission Electron Microscope,F(xiàn)EG-TEM)。

電子顯微鏡之應用與成果

     病材之負染色法因操作簡單,解析力強,目前一般病材均可利用此法鏡檢,直接依其型態(tài)檢出病原達到確診之目的。其操作方法是將樣品以低速及高速遠心純化,利用等量之蒸餾水與2%磷鎢酸鉀溷合滴于輕Collodion被覆,炭膜蒸鍍之400mesh銅網(wǎng)片上,以濾紙吸乾即可鏡檢,負染色法為目前本所電顯最重要使用項目之率較大的介質(zhì)

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