標(biāo)題：金屬磨損顆粒合金的晶體結(jié)構(gòu)分析圖像顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2017-5-21 0:57:00
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正文:
磨損顆粒的分離與辨別
分離鑒別方法
首先從待研究部位(人工關(guān)節(jié)的關(guān)節(jié)囊、植入層的骨／骨水泥
接合處、植入處附近以及遠(yuǎn)離此處的骨骼)取出組織。組織取出后
用中性甲醛水進(jìn)行固定。然后對(duì)固定的組織進(jìn)行其他準(zhǔn)備程序。重
要的是，在為顯微檢測準(zhǔn)備組織標(biāo)本時(shí)，需要對(duì)組織進(jìn)行切割處理
，以減少組織樣本的尺寸。此時(shí)，需要確保切片機(jī)的切割面與組織
界面和植入片處于適當(dāng)?shù)慕嵌�。只有這樣才能保證組織切片顯示出
準(zhǔn)確的組織取向。組織塊的厚度不能超過0．5cm，以確保植入過程
中溶液能夠滲透整塊組織。
X射線衍射分析
X射線衍射(debye-scherrer)分析是一種無損傷檢測方法，適
用于直接測定進(jìn)入組織的結(jié)晶異物的結(jié)構(gòu)。在組織內(nèi)貯存的微粒(
金屬微粒、X射線造影劑、腐蝕生成物、氧化鋁陶瓷物)的晶體格子
面上，X射線發(fā)生衍射，作用于制片；衍射光束的分布角度取決于
晶體格子重復(fù)單位的大小和形狀。X射線衍射線被記錄下來并與已
知物質(zhì)進(jìn)行對(duì)比。通過這種方式，可以把不明異物識(shí)別出來，前提
是它們具有晶體結(jié)構(gòu)。如果兩種合金的晶體結(jié)構(gòu)以及格子間距差別
不大，就無法通過X射線或電子衍射對(duì)其做出區(qū)分。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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