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正文:
汞孔隙率(或透氣度)測定
測量紙張涂層微孔規(guī)格分布
主體結(jié)構(gòu)
汞孔隙率測定法
汞孔隙率(或透氣度)測定法是一項測量紙張涂層微孔規(guī)格分布
的一項最廣泛使用的技術(shù)。汞孔隙率測定法的基本原理是將試樣浸
入汞中,隨著壓力的增加測量擠人試樣的汞容量。汞不會濕潤紙面
組成物,所以都是靠加壓而強制擠入全部孔隙的。在任何特定壓力
時都有一個將被擠入的最小孔隙尺寸。因而有可能通過分步增加壓
力確定試樣孔隙規(guī)格的分布情況。
用汞孔隙率測定法的特殊問題是系統(tǒng)和試樣的彈性,以及存在
窄頸(或瓶形)孔隙的可能性。系統(tǒng)彈性原則上是可以測定與校正的
。但這種校正很難,在實際中很少用。試樣彈性是可變的,但可在
理論上局部加以校正。一般地說無法識別窄頸孔隙。這類孔隙在施
加壓力迫使汞通過窄頸前是無法擠進去的。因此分析結(jié)果將錯誤地
表明有一個具有相當于最小頸規(guī)格的最小規(guī)格孔隙容積。當考察來
自涂布紙試樣的汞孔隙率測定儀數(shù)據(jù)時,有一個趨勢,即假設(shè)試樣
的計算平均微孔半徑是涂層內(nèi)部微孔規(guī)格特性的表征。遺憾的是,
涂布紙試樣的平均微孔半徑通常受原紙較大微孔以及系統(tǒng)與試樣彈
性的影響比受涂層內(nèi)部小微孔的影響更大。但通常在涂布紙微孔規(guī)
格范圍中可識別出的微孔半徑峰值一般在50~lOOnm左右。在微孔
半徑軸上的高峰位置和兩個高峰所代表的容積看來似乎都隨試樣的
改變而變化。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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