標(biāo)題：掃描電子顯微鏡在特殊鋼失效分析工作中的應(yīng)用
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-11-4 15:10:33
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正文:
掃描電子顯微鏡在特殊鋼失效分析工作中的應(yīng)用
失效分析工作就是研究探索特殊鋼零件斷裂失效的機(jī)制，并形成了
一門以斷口分析為主的學(xué)科——斷口學(xué)，或叫斷口金相學(xué)。它不僅能在
設(shè)備失效后進(jìn)行診斷分析，還可為新產(chǎn)品、新裝備投入使用進(jìn)行預(yù)研預(yù)
測(cè)。失效分析工作涉及多種學(xué)科，從物理冶金角度分析，斷口、裂紋及
冶金、工藝損傷缺陷分析仍是基礎(chǔ)，實(shí)踐證明，沒有斷口、裂紋及損傷
缺陷分析的正確診斷結(jié)果，是無法提出失效分析的準(zhǔn)確結(jié)論的。
自從掃描電子顯微鏡問世后，凡是過去利用透射電子顯微鏡的復(fù)型
電子金相技術(shù)所能獲得的信息和知識(shí)，現(xiàn)在幾乎全部可以從斷口的掃描
電子圖像中直接得到，而且，與利用透射電子顯微鏡觀察斷口復(fù)型相比
，掃描電子顯微鏡對(duì)試樣的要求不那么嚴(yán)格，制樣方法簡(jiǎn)單可靠，從而
克服了復(fù)型技術(shù)中的很多限制。這也是為什么在近年來已經(jīng)看不到利用
透射電子顯微鏡觀察斷口的技術(shù)分析文獻(xiàn)。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/9073.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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