標(biāo)題：麥粒挑選光澤度及發(fā)芽率-植物實驗顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2016-10-25 15:13:25
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正文:
損麥粒挑選光澤度及發(fā)芽率-植物實驗顯微鏡
個別麥�；蛘篼湗悠肥艹陛^嚴(yán)重時，大麥等級會降低，甚至不
能用于制
麥。
很顯然，光澤鮮亮且沒有不正常的嚴(yán)重污點是發(fā)芽大麥應(yīng)該具有的
理想品質(zhì)特征。但這并不排除那些污點較輕的大麥樣品，這些大麥通常
在許多大麥種植區(qū)的正常氣候條件下的成熟或收獲過程中可以見到。正
常大麥光澤并不是通過漂白處理得到的，如收割后的大麥通過硫酸等人
工漂白劑進行漂白處理。
方法
把樣品攤開，檢查脫皮或斷損麥粒。最好采用自然日光條件或照明
光源條件。
一般報告形式為：有光澤、輕微斑點、霉斑、嚴(yán)重霉斑、濕大麥、
嚴(yán)重受潮大麥或灰潮大麥(見注釋)。
將明顯破損麥粒挑選出，稱重，結(jié)果以“破損麥�！闭即篼湗悠房�
重的百分?jǐn)?shù)(％)表示。如果樣品數(shù)量充足，可以分別計算出各種情形下
的受損程度，如“枯萎病率(％)”、“黑頭率(％)”、“受凍率(％)”
、“受熱率(％)”、“光澤度(％)”、“發(fā)芽率(％)”及其他一些病粒
百分?jǐn)?shù)(％)。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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