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非接觸式深度量測(cè)顯微鏡系統(tǒng)   訂購電話：010-64034191   咨詢電話：84021761


X、Y、Z 三軸精密量測(cè)，Z軸量測(cè)精度可達(dá)±1μm， 光學(xué)非接觸式，可避免破壞待測(cè)物，廣泛應(yīng)用于IC封裝、機(jī)械產(chǎn)業(yè)及學(xué)術(shù)研究機(jī)構(gòu)等需要高精度三次元量測(cè)之應(yīng)用， 可依客戶需求，搭配量測(cè)軟體及其他配件。
 
高精確非接觸式深度量測(cè)，在觀測(cè)量測(cè)點(diǎn)的表面，以非常簡(jiǎn)單的方式操作，降低人為誤差。
Hisomet 是非接觸式深度量測(cè)顯微鏡系統(tǒng)。
根據(jù)光學(xué)的焦點(diǎn)探知系統(tǒng)而設(shè)計(jì)。
藉由簡(jiǎn)單的重疊對(duì)焦符號(hào)採取精確的對(duì)焦指示符號(hào)，可測(cè)量高度、深度、距離…等，和觀察量測(cè)點(diǎn)的表面。
因?yàn)橛蟹墙佑|式系統(tǒng)，因此不需擔(dān)心物質(zhì)的損壞如樣品變形、刮傷、刻痕， Hisomet 是最理想的在量測(cè)電子零件如 ICs 或高精度加工零件。

特性:

‧工具顯微鏡Z 軸量測(cè)超高精度±1μm
‧顯微鏡的Z 軸光學(xué)式輔助對(duì)焦符號(hào)，大幅降低人眼誤差。
‧顯微鏡的兩種不同的對(duì)焦符號(hào)，可任意切換。