標(biāo)題：元件表面產(chǎn)生的熱分配的技術(shù)-紅外線溫度測(cè)量技術(shù)
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-6-24 15:05:53
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正文:
元件表面產(chǎn)生的熱分配的技術(shù)-紅外線溫度測(cè)量技術(shù)
紅外線溫度測(cè)量
紅外線狀態(tài)監(jiān)測(cè)是能夠揭露缺陷元件表面產(chǎn)生的熱分配的技術(shù)。由
于元件產(chǎn)生的熱量和熱傳遞特性的改變表現(xiàn)出的缺陷的變化使表面的熱
特征發(fā)生改變。因此紅外線溫度測(cè)量能夠通過(guò)遙控收集熱信息監(jiān)測(cè)整個(gè)
功率系統(tǒng)中的電子元件的狀態(tài)。
在正常的操作狀態(tài)下，每個(gè)元件的特性可通過(guò)某一可接受的電阻值
表示。當(dāng)元件受熱時(shí)將表現(xiàn)出電阻值的偏移。元件的過(guò)熱可以由任何失
效的機(jī)理所引起，，如喪失接觸力、應(yīng)力松弛，蠕變，腐蝕等。元件的
持續(xù)惡化造成溫度的增加以至于達(dá)到材料的熔點(diǎn)，從而導(dǎo)致完全失效。
紅外線的溫度測(cè)量目前廣泛地被電力公司和工業(yè)部門應(yīng)用。這不僅
僅是因?yàn)檫@種非接觸、非破壞性的方法得到的效益，也是其表現(xiàn)出的精
確數(shù)據(jù)的獲得、簡(jiǎn)單的操作和高效的性能的結(jié)果。
然而，應(yīng)該指出的是，盡管紅外線系統(tǒng)的廣泛使用受只能測(cè)量曝露
表面的溫度這個(gè)事實(shí)所限制，但是它們?cè)跍y(cè)量緩慢發(fā)展的缺陷的時(shí)候仍
然是非常有效的。這使使用者能夠跟蹤失效的過(guò)程和了解失效的影響。
因?yàn)檫@些理由，IR溫度圖像測(cè)量已經(jīng)成為電氣設(shè)施和廣泛的工業(yè)領(lǐng)域的
預(yù)測(cè)和預(yù)防維護(hù)程序的基本部分。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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