標(biāo)題：集成光電系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計的有點-光電分析顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2016-6-19 1:02:25
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正文:
集成光電系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計的有點-光電分析顯微鏡
光電系統(tǒng)級設(shè)計
光電系統(tǒng)設(shè)計的典型工作包括在單獨的組件級(源、介質(zhì)和
傳感器)的設(shè)計工作，也包括集成系統(tǒng)級的設(shè)計工作。
源必須通過測量或設(shè)計選擇來定量描述。必須測量、建模
和理解輻射光通量的源的特征。必須設(shè)計如激光那樣的主動源以滿
足技術(shù)指標(biāo)要求，必須很好地理解并定量描述自然的光輻射源的特
性。
介質(zhì)必須為滿足需求而設(shè)計。如果介質(zhì)不是一個設(shè)計項(
如大氣)，要對其進(jìn)行良好的定量描述。重要的是要量化描述介質(zhì)
的所有可能會影響到系統(tǒng)性能的特性。
傳感器設(shè)計通常比源和介質(zhì)更直接地受設(shè)計師的控制。設(shè)
計師必須選擇和優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)、光譜濾光片、探測器、電子線路和
機械安裝以滿足需求。在某些情況下，傳感器設(shè)計必須對集成系統(tǒng)
級而言，大多數(shù)設(shè)計和分析聚焦在系統(tǒng)性能上。要研究和優(yōu)化組件
特性之問的相互關(guān)系和它們對性能的影響。必須通過適當(dāng)選擇源或
傳感器的設(shè)計，來補償介質(zhì)對系統(tǒng)性能的影響，這些影響僅有在系
統(tǒng)級才能量化度量。
在集成的光電系統(tǒng)級進(jìn)行設(shè)計的優(yōu)勢包括：①可以通過對
系統(tǒng)中的各個組件進(jìn)行權(quán)衡來滿足用戶需求。例如，如果傳感器可
以做得更靈敏，源的輸出功率可以降低。②光電系統(tǒng)的有效性能可
能僅能在系統(tǒng)級確定，因為每個單獨的組件不能完成系統(tǒng)功能。③
某些關(guān)鍵的決策只能在系統(tǒng)級做出，因為這些決策影響所有較低級
別的組件。例如，激光脈沖的脈寬影響著激光器設(shè)計．同時也影響
傳臆器探測器和電子線路設(shè)計。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/8534.html
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