標(biāo)題：金相分析斷口表面的外觀會隨著位置變化而不同
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2016-6-16 12:19:26
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正文:
金相分析斷口表面的外觀會隨著位置變化而不同
，斷口表面的外觀會隨著位置的變化而不同。也許還不能對圖
像中的某些細(xì)節(jié)作出解釋，但很明顯的一點是，在這個放大倍數(shù)下
，斷口表面的不同部分看起來完全不一樣。附錄中將就這一點作進(jìn)
一步的詳細(xì)分析，在斷口表面的同一部位，利用不同放大倍數(shù)進(jìn)行
觀察時，看上去也會顯得完全不同。這兩張圖像拍攝時所使用的顯
微技術(shù)不同，使得對兩張圖片進(jìn)行準(zhǔn)確比較更加困難。一張高放大
倍數(shù)的圖像，所顯示的范圍小于30微米，顯示的內(nèi)容是透射電鏡(t
ransmission electron microscope，TEM)觀察到的斷口表面上位
于陰影下的碳復(fù)型(carbon replica)。有關(guān)透射電鏡技術(shù)將在需要
注意的是，在利用分形幾何(本章稍后將對此進(jìn)行討論)對斷口表面
進(jìn)行描述時，這一點尤其重要。這涉及斷口形貌圖集的使用，在不
同放大倍數(shù)下或觀察的是斷口表面的不同部位時，圖像會產(chǎn)生很大
差異，因此，在使用斷口形貌圖集時尤其要注意這個問題，特別是
當(dāng)圖片上沒有標(biāo)明測試條件及斷口的整體幾何形狀時。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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