標題：金屬雜質瓷材料組分制樣生產抽樣檢測顯微鏡

信息分類:站內新聞　　 作者:yiyi發(fā)布　　 時間:2016-6-14 4:07:30 將本頁加入收藏

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正文:

過金屬雜質瓷材料組分制樣生產抽樣檢測顯微鏡

　　  一般來說大多是通過金屬雜質原子起作用，例如高價金屬原

子替位，低價金屬原子替位，金屬原子填隙，但有時也通過非金屬

原子起作用，例如氟原子對氧原子的替位，氯原子對硫原子的替位

等，所有這些作用都可能形成不同能位的施主能級或受主能級，面

雜質原子不僅來自于配料時人為的摻加的雜質，也來自于原料不純

所帶來的雜質，而不同施主和受主之間又會產生互相補償?shù)淖饔茫?/div>

給半導瓷的導電過程帶來復雜的影響，如何在原材料的組分、配比

、含量、純度上合理控制，以求在半導瓷的制造過程中達到預期的

性能，將在以后各節(jié)中，結合具體材料進行分析。

　　  2、化學計量比的偏移

　　  前面已經指出由于半導瓷材料組分與嚴格的化學比相偏離，

就產生了各種各樣的缺陷，如金屬原子或氧原子的空格點，填隙原

子等，生成施主能級或受主能級，產品的化學計量比偏移的程度以

及生成那一種缺陷，各種缺陷之間的比例既與原材料的性質有關，

也與燒結溫度、保溫時間、燒結與冷卻過程中的氣氛情況等工藝條

件有關，特別是冷卻條件，對缺陷情況，產品性能影響很大，下面

將結合具體材料、進行分析。

出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科

特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經允許請勿轉載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/8515.html 　
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