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標題:鑄件中的晶粒尺寸直徑分析圖像材料顯微鏡廠商

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2016-6-3 19:37:03 將本頁加入收藏

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正文:

鑄件中的晶粒尺寸直徑分析圖像材料顯微鏡廠商


    在大鋼錠中柱狀晶的長度可達到或超過200 mm. 由于自身重力的作用,
加上等軸晶在通往鋼錠底部的途中碰巧掛在它們的尖端,附加了等軸晶的重
量,從鑄型壁上凸出的這些長懸臂承受相當大的壓力。在這種重力作用下,
柱狀晶因蠕變而彎曲,可能同時還有再結(jié)晶發(fā)生,并且允許生長超過一定長
度的晶粒以不同的角度下垂生長。這一機制與大型鑄件中柱狀晶區(qū)結(jié)構(gòu)近似
一致,可以用來解釋所謂的分支柱狀晶區(qū)。由于二次枝晶臂的支撐并連接成
橫向支撐結(jié)構(gòu),所以接近根部的柱狀晶平直部分的彎曲可以被二次枝晶臂所
阻礙。

    生長著的枝晶還可能被其他方式破壞或破碎,而產(chǎn)生新的晶粒核心。那
些凝固過程中釋放氣體的鑄型涂料可以擾動晶體的生長,是一種有效的晶粒
細化劑。

    在有效的凝固時間范圍內(nèi),大量晶粒將粗化,減小自身表面能,使其平
均晶粒尺寸長大到與凝固時間相對應的預測尺寸。因此,晶粒尺寸也不能小
于枝晶臂尺寸,否則晶粒尺寸與凝固時間無關(guān)。顯然,存在完全獨立的因素
控制著晶粒尺寸。

    我們已經(jīng)清楚鑄件中的晶粒尺寸不能簡單歸于形核過程,如型壁的均質(zhì)
形核,或外來核心的作用,或有意添加的晶粒細化劑等的結(jié)果。晶粒核心同
樣也易于受其他條件如重熔的影響,通常在粗晶材料中,由各種原因引起的
意外破壞和破碎,會使問題更加復雜。










出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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