標(biāo)題：金相顯微鏡斷面測(cè)量合金鍍層和多層鍍層計(jì)量顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-5-8 1:16:26
將本頁(yè)加入收藏
下一篇：測(cè)量金屬覆層厚度的化學(xué)溶解技術(shù)-鍍層特點(diǎn)
上一篇：覆層厚度測(cè)量-合金相層鍍層分析顯微鏡
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
測(cè)量金屬覆層厚度的陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法簡(jiǎn)稱庫(kù)侖法，它主要是
利用電解方法對(duì)被測(cè)覆層進(jìn)行陽(yáng)極溶解，故也稱電解法。覆層厚度
是根據(jù)陽(yáng)極溶解所消耗的電量計(jì)算的，因而這種測(cè)量方法又稱電
量法。庫(kù)侖法測(cè)厚不僅適合于測(cè)量金屬基體上的單層金屬鍍層，而
且適合于測(cè)量合金鍍層和多層鍍層。利用庫(kù)侖法在測(cè)量覆層厚度
的同時(shí)還對(duì)電位的變化進(jìn)行測(cè)量，從而可以測(cè)量多層鎳鍍層的每
一分層厚度；如果能達(dá)到準(zhǔn)確定位，還可以進(jìn)行腐蝕厚度的測(cè)
量。
庫(kù)侖測(cè)厚儀操作簡(jiǎn)單、測(cè)量速度快、操作人員的人為影響
小，測(cè)量鍍層厚度的范圍可以從0．5微米或更薄至300微米，當(dāng)測(cè)量
鍍層厚度為l～30微米時(shí)，測(cè)量誤差為±5％。這種方法測(cè)量的范
圍較寬，測(cè)得的結(jié)果可靠，測(cè)量的準(zhǔn)確度較高；雖然對(duì)被測(cè)覆層
有損壞的缺點(diǎn)，然而其應(yīng)用日益普遍。
過(guò)去在覆層厚度測(cè)量中，大都采用金相顯微鏡斷面測(cè)厚作為
仲裁測(cè)量，但利用這種方法測(cè)量大約在8μm以下的薄鍍層，即使
試樣的制備最佳，一般測(cè)量誤差仍較大，而不及庫(kù)侖法的測(cè)量準(zhǔn)
確，因而測(cè)量大約8微米以內(nèi)的薄鍍層可采用庫(kù)侖法作仲裁測(cè)量
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/8371.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商