標題：測量顯微硬度的工具儀器-測量分析圖像顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2016-5-3 2:47:13
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正文:
顯微壓入法的優(yōu)點之一是有可能用來研究靠近表面的薄層強度，
鑒于對表面在固體塑性變形過程中引起的作用日益重視，這種研究看
來是有前途的．
但是，在小于10微米表面層內(nèi)的大量硬度測量結果是矛盾的，甚
至于對于同一個或同一種晶體也是這樣(例如，NaCl晶體的解理面)．
測量結果表明，當接近表面時，硬度既有與壓入深度無關的．電有隨
深度而增加或減少的．
為此，我們制定的研究任務是：用顯微壓入法詳細研究不同物質
單晶在靠近表面薄層的強度性能，以確定這些性能變化的規(guī)律性I研究
與壓入層深度有關聯(lián)的位錯遷移率，并估計單晶體表面硬度的極限值
考慮到小載荷下的硬度測量誤差，得到如下的結論，即硬度的高
低受各種誤差的影響，但除了加載和測量壓痕的誤差外，其他所有的
都帶來和壓痕尺寸成比例的絕對誤差，因而，硬度值失真對其與載荷
關系的性質沒有影響．所以，在測定硬度與載荷的關系(或與壓痕尺寸
的關系)時，不同研究者所得結果的分歧，大概是由于測定所施加載荷
大小時的系統(tǒng)誤差．
在這些情況下，重要的是要有一個測量顯微硬度的裝置，以保證
所施加載荷的大小不受系統(tǒng)誤差的影響．我們已經(jīng)研制出適用予載荷
范圍為0．3—100 g的這種裝置．它的特點是不需要調(diào)節(jié)載荷面在全部
工作載荷范圍內(nèi)壓頭質量與所施加載荷的比值小于1，并在所施加載荷
和壓頭之間設置有一個彈性元件。上述特點的結合使此裝置適合于小
載荷下的精密硬度測量．
在此新裝置上對室溫下硬度與載荷關系的系統(tǒng)研究表明：在所研
究的全部離子單晶體和余屬單晶體樣品中，可以觀察到硬度隨著載荷
減小而有相當大的增加．
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/8350.html
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