標(biāo)題：復(fù)合材料的斷裂拉伸試樣分析圖像顯微鏡廠商
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2016-2-4 10:16:03
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正文:
復(fù)合材料的斷裂拉伸試樣分析圖像顯微鏡廠商
復(fù)合材料的斷裂過(guò)程和機(jī)制。
實(shí)驗(yàn)方法
試樣為中間帶缺口的拉伸試樣，其形狀及尺寸試樣厚度為1mm
，斷裂過(guò)程原位觀察在帶有加載裝置的掃描電鏡上進(jìn)行，加載速
率約為5x10mm/s。載荷和位移可在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中記錄，裂紋 形核
和擴(kuò)展過(guò)程可用照相或錄像記錄下來(lái)。
實(shí)驗(yàn)結(jié)果
加載前缺口附近的試樣形貌，可以看出經(jīng)過(guò)熱擠壓，顆粒略顯
方向性，長(zhǎng)度方向沿?cái)D壓方向排列，材料中并有一些鑄造缺陷，
如氣孔等，應(yīng)變過(guò)程中，由于基體易產(chǎn)生塑性變形試樣表面出現(xiàn)
波紋，顆粒略顯于表面，顆粒的存在限制及增加了外施的應(yīng)力，
隨著應(yīng)變的增加，在缺口根部的應(yīng)力集中區(qū)內(nèi)，首先產(chǎn)生微裂紋
，這些微裂紋成核主要在顆粒周圍的基體上，少數(shù)在顆粒與基體
界面和加工過(guò)程已斷裂的顆粒中，這些微裂紋主要沿缺口在與主
應(yīng)力垂直方向上形成，微裂紋在主裂紋塵前形成，微裂紋與主裂
紋尖間基體的斷裂使裂紋得以擴(kuò)展，有兩個(gè)因素與裂紋的擴(kuò)展機(jī)
理有關(guān)：一是不連續(xù)裂紋由于基體韌帶的橋接，二是裂紋通常分
成兩個(gè)或多個(gè)路徑，即裂紋的分叉，這種橋接和分叉機(jī)制延緩了
裂紋的擴(kuò)展速度，從圖3可以清楚地看到，裂紋擴(kuò)展途徑少數(shù)通
過(guò)顆粒與基體界面外，大 部分裂紋遇到顆粒而發(fā)生偏轉(zhuǎn)，繞過(guò)
顆粒，主裂紋與前端微裂紋在遠(yuǎn)離顆粒的基體中呈直線連接而擴(kuò)
展。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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