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標(biāo)題:螺旋梯階狀小形成某種由多圈蜷線所構(gòu)成-金屬顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時(shí)間:2016-1-20 17:30:18 將本頁加入收藏

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正文:

螺旋梯階狀小形成某種由多圈蜷線所構(gòu)成-金屬顯微鏡

 當(dāng)螺旋梯階狀小形成某種由多圈蜷線所構(gòu)成的,相隔成層的蜷面
層時(shí),每層的厚度相當(dāng)于作為一定結(jié)構(gòu)單位的一層硅-氧四面體群
的厚度,在型結(jié)構(gòu)的試樣上曾發(fā)現(xiàn)超細(xì)的兩圈蜷線,根據(jù)干涉儀的
測(cè)量,組成的蜷面層的平均高度等于4.9A,測(cè)量誤差為4.5%,顯然
,蜷線的每一圈相當(dāng)于兩層取向相同的硅-氧四面體,蜷線兩圈有
規(guī)律的交替同樣導(dǎo)致了平等層組與反平行層粗的有規(guī)律的更迭,并
且引起型結(jié)構(gòu)的形成。
  同樣,在型結(jié)構(gòu)的試樣上,由兩圈蜷線組成的蜷面層的平均高度
等于7.9A,亦即在洞里誤差范圍內(nèi)與試樣結(jié)構(gòu)中所具有的一層取向
相同的硅-氧四面體的厚度一致,在更多層堆積的情況下同,上述
的一致性仍繼續(xù)保持;按18層排列的規(guī)律構(gòu)成了試樣晶面上的結(jié)構(gòu)
,蜷線梯階高度等于51.9A,梯階高度的測(cè)定是按照直接測(cè)量干涉
條紋位移的方法進(jìn)行,在這種情況下的精確度不高,在具有很大的
超周期的其他結(jié)構(gòu)類型的試樣上,該類型有內(nèi)部結(jié)構(gòu)與晶面蜷線顯
微形貌的一致性也同樣有過。
  在一個(gè)晶體上由于蜷線接近時(shí),四個(gè)活動(dòng)中心同時(shí)作用而形成的
梯階平均高度等于1493A,此晶體接近方向的X射線振動(dòng)照片的測(cè)量
證明了每經(jīng)過144層就在相當(dāng)于6層排列的重復(fù)周期的基礎(chǔ)上垛上一
層有規(guī)律的“層錯(cuò)”因此晶體中的超周期約為360A。











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