標(biāo)題：機(jī)器和構(gòu)件材料基體不同的微粒組成結(jié)構(gòu)檢測(cè)顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-11-22 1:07:24
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正文:
機(jī)器和構(gòu)件材料基體不同的微粒組成結(jié)構(gòu)檢測(cè)顯微鏡
機(jī)器和構(gòu)件的損壞實(shí)際上總是從由于幾何形狀不連續(xù)或顯微
組織不連續(xù)造成的局部應(yīng)力集中的區(qū)域開(kāi)始的。這些應(yīng)力集中或
應(yīng)力集中源常常導(dǎo)致局部應(yīng)力比未考慮應(yīng)力集中效應(yīng)而算出來(lái)的
名義凈剖面應(yīng)力高許多倍。當(dāng)構(gòu)件承受外載荷作用時(shí)，我們可以
用。力流鎊通過(guò)構(gòu)件的想法來(lái)獲得與幾何不連續(xù)有關(guān)的應(yīng)力集中
的直觀了解。
應(yīng)力集中效應(yīng)
為了研究應(yīng)力集中效應(yīng)。應(yīng)力增大因子可分為高度局部性的
和廣泛分布性的。高度局部性的應(yīng)力增大因子是指含有應(yīng)力集中
的那部分材料的體積比受力構(gòu)件的總體積小得多，可以忽略不計(jì)。
廣泛分布性的應(yīng)力增大因子是指含有應(yīng)力集中的那部分材料體積
占受力構(gòu)件總體積的相當(dāng)大的部分。因此，對(duì)于高度局部性的應(yīng)力
集中來(lái)說(shuō)，受力部件的總體尺寸和形狀不會(huì)因應(yīng)力集中區(qū)域內(nèi)的
材料屈服而有顯著的改變。而對(duì)于廣泛分布性的應(yīng)力集中來(lái)說(shuō)，
受力部件的總體尺寸和形狀將由于應(yīng)力集中區(qū)域內(nèi)的材料屈服而
有顯著的改變。例如，小孔和內(nèi)圓角，通常都被看作是高度局部
性的應(yīng)力集中;彎鉤或環(huán)形掛鉤接頭則歸入廣泛分布性應(yīng)力集
中。
位錯(cuò)幾何學(xué)
金屬晶格的缺陷可以分為四大類，包括點(diǎn)缺陷、線缺陷、面
缺陷和體缺陷。
點(diǎn)缺陷 它是非常局部的晶格缺陷，其影響只波及距缺陷中
心一個(gè)或幾個(gè)原子直徑的范圍。點(diǎn)缺陷包括空位(失去的原子)，
間隙原子、溶質(zhì)原子和在按其它順序排列的超格子結(jié)構(gòu)中的錯(cuò)位
原子。
線缺陷 它是位錯(cuò)，這種缺陷形式將在下節(jié)中詳細(xì)討論。
面缺陷 它是排列在晶體內(nèi)部的缺陷平面或缺陷曲面。面缺
陷包括晶界、亞晶界，孿晶界和在晶體內(nèi)部原子平面中的堆垛層
錯(cuò)等。
體缺陷 它是三維的缺陷，諸如空位、氣泡、其定向與周圍
基體不同的微粒，或在不那么完整的基體中的點(diǎn)缺陷的集聚。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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