標(biāo)題：檢測(cè)儀器由雜光引起的誤差,光學(xué)儀器質(zhì)量檢測(cè)
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-11-19 16:13:04
將本頁(yè)加入收藏
下一篇：玻璃儀器按其質(zhì)料特點(diǎn)一般可分為哪些種類(lèi)-光學(xué)顯微鏡
上一篇：測(cè)定沿深度分布的硬度最好用顯微硬度計(jì),微觀(guān)分析顯微鏡
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
檢測(cè)儀器由雜光引起的誤差,光學(xué)儀器質(zhì)量檢測(cè)
雜光檢查
凡是屬于檢測(cè)儀器不需要的光線(xiàn)都稱(chēng)為發(fā)桃，它對(duì)吸光度法的準(zhǔn)
確性有嚴(yán)重影響，但卻常被忽視，雜光的來(lái)源的內(nèi)部和外部因素。
1、儀器內(nèi)部因素
如暗室漏光，內(nèi)壁黑漆脫落，比色杯架安裝不當(dāng)，光學(xué)元件灰塵
散射增加，光柵或棱鏡質(zhì)量不佳，雜散光強(qiáng)，變帶增寬，濾光片老
化及儀器工作不正常時(shí)的電訊號(hào)等。
儀器外部因素
如室內(nèi)光線(xiàn)過(guò)強(qiáng)而漏入儀器，儀器暗室蓋不嚴(yán)，樣品本身有熒光
及沒(méi)有通過(guò)樣品而直接到達(dá)檢測(cè)器的光線(xiàn)。
由該表可知，當(dāng)真實(shí)吸光度值增大時(shí)，由雜光引起的誤差也隨之
加大，這是影響高濃度測(cè)定的一個(gè)重要因素，在引起雜光產(chǎn)箋因素
末被糾正前，雜光所造成的誤差有重現(xiàn)性，故為系統(tǒng)誤差，完全消
除雜光可能有困難，便監(jiān)測(cè)雜光水平并設(shè)法控制在一定允許范圍內(nèi)
應(yīng)是可行的。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7711.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專(zhuān)業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專(zhuān)業(yè)的供應(yīng)商