標(biāo)題：透射顯微鏡微觀分析,斷口的精細(xì)結(jié)構(gòu)計(jì)量顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-10-22 20:25:27
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正文:
微觀斷口分析
觀察鋼的宏觀斷口和低倍組織是普遍使用的檢查鋼材質(zhì)量的重
要方法，根據(jù)大量生產(chǎn)檢驗(yàn)積累的豐富資料，已制出的各種宏觀
缺陷的評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，基本能夠較確切地評(píng)價(jià)鋼的質(zhì)量，但是，這些
宏觀缺陷的內(nèi)在本質(zhì)究竟是什么，就可以改進(jìn)冶金工藝、防止這
些缺陷的產(chǎn)生，同時(shí)也可以對(duì)這些缺陷的危害程度給予客觀的估
價(jià)。
近二十年來(lái)，透射電子顯微鏡，電子探針及掃描電子顯微鏡，
得到了廣泛應(yīng)用，其中一個(gè)重要的應(yīng)用領(lǐng)域就是研究金屬的斷口
及組織，一般的透射電子顯微鏡，由于電子束不能穿透大塊金屬
，因此，必須用膠膜和碳膜復(fù)制斷口，再將此復(fù)制放在透射式顯
微鏡下觀察，電子顯微鏡具有一定的景深，放大倍率可達(dá)幾十萬(wàn)
倍，可能辨別出斷口的精細(xì)結(jié)構(gòu)；同時(shí)還可以把微小的第二相從
斷口上萃取下來(lái)，進(jìn)行電子衍射結(jié)構(gòu)分析，從而可確定其晶體結(jié)
構(gòu)和物相組成。
掃描電子顯微鏡的出現(xiàn)使分析試驗(yàn)方法有了進(jìn)一步的發(fā)展，觀
察的試樣不需制備復(fù)型，高壓電子束可直接打在試樣表面上激發(fā)
出二次電子成像，同時(shí)具有較大的景深，因此，能反映出斷口的
本來(lái)形貌而不失真。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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