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標(biāo)題:多晶體的微觀變形和再結(jié)晶晶粒直徑測(cè)量顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時(shí)間:2015-9-30 13:48:54 將本頁加入收藏

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正文:

多晶體的微觀變形和再結(jié)晶晶粒直徑測(cè)量顯微鏡

多晶體內(nèi)的選擇生長(zhǎng)

    單晶體(尤其在低變形量時(shí))的微觀變形方式比較簡(jiǎn)單,但
需用比較復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)方法才得以了解單晶體內(nèi)選擇生長(zhǎng)的規(guī)律。
多晶體的微觀變形和再結(jié)晶方式很復(fù)雜,可以想象要獲得多晶體
內(nèi)選擇生長(zhǎng)的規(guī)律是相當(dāng)困難的。有時(shí)要借助某些偶然的機(jī)會(huì)才
能觀察到多晶體內(nèi)的選擇生長(zhǎng)現(xiàn)象。在這方面,人們對(duì)純鋁多晶
體作了較多的工作。

一般來說,冷變形金屬在進(jìn)行初次再結(jié)晶之前總可以發(fā)生某
種回復(fù)過程。這一過程的明顯程度與金屬的層錯(cuò)能密切相關(guān)。由
于高層錯(cuò)能金屬冷變形結(jié)構(gòu)內(nèi)的位錯(cuò)易于借助攀移而對(duì)消或重新
排列,因此其回復(fù)過程就會(huì)變得十分明顯。鋁是高層錯(cuò)能面心立
方金屬,冷變形在鋁中造成的空位在室溫就會(huì)完全散失,而回復(fù)

過程中位錯(cuò)的大量重新排列可以使冷變形儲(chǔ)存能減少一半,從而
極大地降低了初次再結(jié)晶的驅(qū)動(dòng)力。這應(yīng)該是回復(fù)與未回復(fù)樣品
再結(jié)晶速度巨大差異的根本原因。立方取向晶粒在再結(jié)晶時(shí)雖然
有長(zhǎng)大的優(yōu)勢(shì),但當(dāng)樣品未作回復(fù)處理時(shí),由于強(qiáng)大的再結(jié)晶驅(qū)
動(dòng)力使其它取向的再結(jié)晶核的生長(zhǎng)速度也不明顯低于立方取向的
再結(jié)晶核,因此晶粒的選擇生長(zhǎng)效應(yīng)會(huì)被掩蓋住,不能在再結(jié)晶
過程中起重要作用。










出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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