標(biāo)題：鍍層微觀結(jié)構(gòu)微觀形貌、晶體結(jié)構(gòu)檢測(cè)金相顯微鏡
信息分類(lèi):站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2015-9-13 14:30:39
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正文:
鍍層微觀結(jié)構(gòu)
鍍層微觀結(jié)構(gòu)是指鍍層的微觀形貌、晶體結(jié)構(gòu)和金相組織(也
包括化學(xué)成分)。
鍍層微觀結(jié)構(gòu)由鍍覆工藝條件決定，并對(duì)鍍層的強(qiáng)度、韌性、
硬度、內(nèi)應(yīng)力等多種性能產(chǎn)生重要的影響。研究鍍層微觀結(jié)構(gòu)．是
闡明鍍覆層結(jié)晶機(jī)理、指導(dǎo)鍍覆層生產(chǎn)實(shí)踐和鍍綴層材料研究的
基礎(chǔ)。
分析方法
顯微鏡法最常用手段是金相顯微鏡和電子顯微鏡。用其
觀察鍍層的表面或截面形貌、結(jié)構(gòu)和缺陷，并可照相。
金相顯微鏡可廣泛用于鍍層質(zhì)量的常規(guī)檢測(cè)。如鍍層外觀等
項(xiàng)目；而電子顯微鏡則是只有在實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)中才使用，因其分辨率
極高，故可觀察鍍覆層初期微晶的形態(tài)和缺陷。
試樣
試樣尺寸可按使用儀器的說(shuō)明書(shū)要求確定。并按要求制備。一
般做鍍層成分測(cè)定時(shí)，試樣均為固體的，其中電子探針和俄歇能譜
為非破壞性。而離子探針為破壞性。
測(cè)定結(jié)果
由儀器所附數(shù)據(jù)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)定并打印。直接得到定性或定量
數(shù)據(jù)，另外從圖象顯示系統(tǒng)也可直接觀察成象情況。
鍍層微觀結(jié)構(gòu)分析
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/7440.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專(zhuān)業(yè)的供應(yīng)商
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