標題：測量表面粗糙度的儀器當相互比較表面測量儀器
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-7-13 20:29:17
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正文:
表面粗糙度的定義關于表面微觀結構的各個方面的概念實
際表面偏離想表面的偏差用三種結構型式——粗糙度、波度和
加工紋理方向來描述。
波度：由表面結構的寬節(jié)距部分組成，其節(jié)距一般要比粗
糙度截止寬度寬，因此被排除于測量以外。
加工紋理方向：是占優(yōu)勢的表面花紋的方向，一般由采用
的制造工藝方法所決定，在這一章中，只有表面粗糙度是我們
所關心的問題。
用于測量表面粗糙度的儀器當相互比較表面測量儀器時，
不僅儀器是基本要素，而且評價整個測量系統(tǒng)，包括表面的型
式，儀器分設備和數(shù)據(jù)顯示裝置等，
測量系統(tǒng)的各個部件比較表，正如下述，有些儀器通常測出表
面截面輪廓，有些儀器可作出形貌圖。
光剖切式——發(fā)展了這一技術，稱之謂光切法，這是把形
成尖銳刀刃形狀的光束，以與表面間大約45度角投影到被測表
面，在觀察顯微鏡管中產生表面的光切剖面，如圖3 所示，在
校正好合適的放大倍數(shù)后，根據(jù)光學剖面顯微圖象可以測出表
面的截面輪廓，它主要用于比較粗糙的表面（峰互谷大于1 μ
m ）。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科