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標題:表面層粗糙度測量SEM電子顯微鏡有較大的景深、立體感強

信息分類:站內新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2015-7-3 14:03:53 將本頁加入收藏

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正文:

表面層粗糙度測量中光學顯微鏡的設計原理

電子顯微鏡與普通光學顯微鏡的比較

  借助于光波,人們把肉眼的視力提高了近500倍,如果借助于波
長更短的電子,可將人的視力提高到80萬倍,因此本質上光學顯微
鏡和電子顯微鏡的原理的類似之處,它們除了放大倍數(shù)的差別外,
凡要是圖像的景深不同,SEM有非常大的景深、立體感強。
  樣品的影響包括表面層的非均勻性、表面層粗糙度等。
  分析方法,一般通過峰位移可確定原子所處的化學環(huán)境,通過峰
面積可計算在該價態(tài)下原子的相對含量。

  樣品
  樣品一般是一平方厘米見方的固體或可載于固體上的其他非揮發(fā)
性物質,用雙面膠固定在樣品臺上,樣品應是地真空系統(tǒng)中無揮發(fā)
性物質,對于進行體分析的樣品,楞通過逐層刻蝕的方法進行分析
或通過變角進行研究。











出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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