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標題:被測表面和測量工具測量面的粗糙度或波紋度分析顯微鏡

信息分類:站內新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2015-6-25 17:21:27 將本頁加入收藏

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正文:

被測表面和測量工具測量面的粗糙度或波紋度分析顯微鏡


在長度測量中.被測表面和測量工具測量面的粗糙度或
波紋度,會影響到測量結果。特別是在精密測量中,由于上
述原因引起的測盈誤差不可忽視,

定。測得的尺寸不穩(wěn)定的原因,一是塊規(guī)上微小波峰在測頭
測力的作用下產生彈性或塑性變形;另一原因是測頭在塊規(guī)
上的某處落在波峰上,在另一處落入波谷內。測頭落在波峰

測得的值大;落入波谷內,測得的值小.粗糙度對測量
的影響規(guī)律是:

    1.儀器測量面的粗糙度越低,則測量誤差越大;
    2.工件被測面的粗糙度越低,則測量誤差越大;工件的材
料越軟,在粗糙度不高的情況下,測量誤差越大;
    3.在粗糙度低時.測量力越大。則測量誤差越大:測頭
越小,測量誤差越大。
    表面粗糙的工件不能用精密儀器去測量,這不僅是為防
止儀器被劃傷,而且由于表面粗糙弓l起的測量誤差可能超過
測量儀器的精度,失去精密測量的意義。尺寸精度高的零件,
其表面粗糙度也相應的高。
    為減少測量誤差和防止儀器測頭過早磨損,量具量儀測
頭測量面的粗糙度都比較高。測量面的粗糙度是量具量儀制
造、修理和檢定中的重要指標之一。測量面的平面度或兩表
面的平行度,往往用平晶以光波干涉法進行檢定,當粗糙度
達不到要求時,不僅平晶被劃傷,而且測量面和平晶之間形
不成光波千涉條紋,以至無法檢定。










出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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