標題：電光器件細晶粒尺寸-雜質(zhì)含量計量金相顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-5-20 2:03:05
將本頁加入收藏
下一篇：目鏡的作用是將物鏡放大后的中間像（實像）再放大
上一篇：培養(yǎng)皿細胞檢測相襯DIC顯微鏡制造廠商
點擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報價--丨--
---
---
---
正文:
電光器件細晶粒尺寸-雜質(zhì)含量計量金相顯微鏡
去除氣孔是使力學可靠性和介電可靠性最大改善多種
電功能的關(guān)鍵目標。
這對于電子基片、電光器件、離子導體、多層電容器
以及壓電系統(tǒng)等都是特別重要的，細晶粒尺寸也是對控制
介電性能起重要作用的，因為它能控制畸尺寸，控制畸壁
的移位，引起的特性上形成磁滯回線，因而引起功率損耗。
在特殊的離子及電子電導的情況下，性能的優(yōu)選及可
靠性的改進可能是復(fù)雜的，特別當器件是在高溫下工作時，
要考慮的因素是所要求的雜質(zhì)含量，它的存在以給出合適
的電導而不致偏析到晶界上去，而在晶界處它們會干擾電
導過程，增大晶粒尺寸會使包含在電導過程中的晶界數(shù)目
降低，因而降低了晶界對總電阻的貢獻，但是這會導致力
學性能變?nèi)�，所以確定晶粒尺寸時必須綜合考慮，此外，
一些晶粒的擇優(yōu)定向會提高電導率，其作法讓電導平面與
晶界方向垂直，在高溫超導體中，如此的定向措施可視為
達到高的臨界電流的理想方法。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/6979.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商