標題：熒光光譜的測量什么是樣品譜的測量-顯微鏡應用
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-5-6 20:56:57
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正文:
光譜校正
熒光光譜的測量是一項比較復雜的操作，用儀器直接測到的表觀光譜
，經(jīng)過減去背景譜和乖以校正因子才能得到真實的光譜分布曲線。
在此不現(xiàn)試述，現(xiàn)僅強調(diào)在光譜測量過程中幾個需要特別注意的問題
：
1.樣品譜的測量
被測組分最好能夠占滿整個測量光柵，測量光柵內(nèi)的組分的熒光性應
該均勻一致，被測組分周圍不可有強熒光物質(zhì)的干擾。
2.背景譜的測量
背景譜和樣品譜的測量條件必須一致，背景謗測量位置的選擇十分重
要，當被測組分周圍無熒光或熒光很弱時，可選擇不發(fā)熒光的絲質(zhì)體作
為背景，若被測組分周圍熒光也較強時，則要在被測組分附近選一個位
置進行測量，根據(jù)經(jīng)驗，一般背景的熒光越弱越好，其強度不大于樣品
譜強度的十分之一，最大不能超過五分之一，否則會影響光譜校正結果
。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/6928.html
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