標題：測定礦物硬度的測試常用折射儀偏光顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-3-13 23:53:21
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正文:
用干涉圖測定寶石光性與軸性，在理論上是成熟
的。但由于被琢磨的寶石，表面具有復雜的刻面，
使觀察干涉圖受到很大的限制，因而，常用折射儀
法、偏光顯微鏡法測定軸性與光性。
在寶石學中，為了測定寶石的硬度，設(shè)計了一種
硬度筆，它是在長約5-7厘米的金屬柄的前端，鑲上
一粒摩氏硬度計礦物制成。也有把標準硬度礦物制
成磨光小片，后者又稱為“標準硬度片”。
硬度的測試是一種的損測試，因此只能用在末經(jīng)
琢磨的寶石和玉石原料，一般不能用來刻劃成品或
工藝品，以免損傷寶石。使用時，將被測寶石的一
個尖棱部位，輕輕刻劃標準硬度片，然后用放大鏡
觀察被刻劃處是否留下劃痕，如果有細線狀劃痕，
表示寶石的硬度大于標準硬度片，就換用硬度較高
一級的硬度片繼續(xù)一試。通過比較逐步得到寶石的
硬度值，也可用硬度筆輕輕刻劃寶石的不顯眼部位
，如亭部等，來比較硬度的大小。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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