標(biāo)題：內(nèi)部檢查時使用從低倍率到SEM的數(shù)種顯微鏡
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作者:yiyi發(fā)布
時間:2015-2-19 2:33:26
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正文:
內(nèi)部檢查時使用從低倍率到SEM的數(shù)種顯微鏡
一般程序
在失效確認(rèn)程序中，透明試件的內(nèi)部檢查限于報告的內(nèi)
部缺陷。例如，關(guān)于“在試件的內(nèi)部看到游離的微片”或"試"
件動作但接觸彈簧歪斜”等說明即是。此時，內(nèi)部檢查首先
從確認(rèn)報告開始。
透明試件的內(nèi)部檢查與一般非破壞程序相同，特別是最
初分析的內(nèi)部檢查，不只是驗證所報告的失效，而且要從鑒
別失效模式和機理開始。
其后，透明試件的一切內(nèi)部檢查按照半破壞或破壞的程
序進行，與不透明試件的內(nèi)部檢查和目的相同。
特別應(yīng)檢查的項目為:
①結(jié)構(gòu)設(shè)計及使用的材料。
②污染引起的腐蝕或枯附物。
③細(xì)裂紋或裂縫。
④電鍍不完全。
⑤相互接觸及接合不良。
⑥熱或電氣損傷。
⑦靜電引起的損傷。
在內(nèi)部檢查時使用從低倍率到SEM的數(shù)種顯微鏡。檢查
順序決定于使用的裝置和器具，例如，試件內(nèi)部構(gòu)成整體的
光學(xué)檢查不是一開始就用SEM，而是分析段地向高倍率進
展。全部重要信息都要進行顯微照像。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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