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正文:
低溫(-150℃)下的試驗表明, 同室溫下的強度相比,材料的強
度提高約30%。顯微硬度與壓頭負載值及進行試驗時所定的面的結晶
取向的關系不明顯。這樣,晶體的硬度負載10N時為12.8-13.8Gpa,負
載200N時為12.2-13.0Gpa。
雜質濃度在1M%范圍內的不大波動可導致PSZ晶體的力學性能有明顯
的差異。
研究結果表明,熔體定向結晶法制取高強和抗裂PSZ晶體時必須考
慮眾多因素,如所用添加劑的有效分布系數(shù)。加入雜質的工藝條件
(結晶速度、溫度梯度等),氧化物穩(wěn)定劑和第三雜質的形成和濃度
影響,含變價離子晶體的退火和冷卻的熱制度等。
因此,可以斷定,隨氧化物穩(wěn)定劑濃度的增加,材料的線膨脹系數(shù)
增大,相轉變的溫度降低,相轉變果樣品的體積減小,滯后環(huán)消失。
用銪和釓的氧化物穩(wěn)定時,在含量大于3M%時發(fā)生上述變化;用氧
化鋱時滯后環(huán)實際上在3M%時消失,合成條件對環(huán)的形狀和數(shù)值有重
大影響,在熔體定向結晶情況下,樣品的孔隙度為零,相在晶體長度
上的分布不均勻。因此可能滯后環(huán)的形狀是平緩的,曲線上的拐點對
應于相轉變速度大于位于樣品中四方相的膨脹或壓縮。因此轉變范圍
逐漸被抹掉,變得廣闊。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科