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標(biāo)題:晶粒、組成物的分布或夾雜物或夾渣檢測金相顯微鏡

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時(shí)間:2014-12-8 17:34:28 將本頁加入收藏

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正文:

晶粒、組成物的分布或夾雜物或夾渣檢測金相顯微鏡

    為了對晶粒、組成物的分布、變形的影響及存在的雜質(zhì)進(jìn)行
更深人的研究,需進(jìn)一步進(jìn)行微觀檢驗(yàn),用光學(xué)金相顯微鏡在放
大倍數(shù)約3 000倍以下檢驗(yàn)金屬。通常使用放大倍數(shù)在1 000倍


    要制備的試樣大小必須便于用手握住,合適的尺寸大約是直
徑20mm或?qū)?0mm厚10mm。試樣可用手鋸或電鋸切割。

    隨后用橡膠泥將拋光態(tài)(未浸蝕)試樣黏放在平板上,使要
檢驗(yàn)的磨而呈完全水平狀態(tài),以備檢驗(yàn)用。

    拋光態(tài)的顯微檢驗(yàn)將揭示金屬中存在的任何非金屬物質(zhì)(如
夾雜物或夾渣)及內(nèi)在的疏松和裂紋。

    即使很細(xì)心地拋光,在試樣表面也會(huì)留下“流變層”,這種
流變層可能遮蓋了很細(xì)裂紋或央雜物。通過輕微反復(fù)拋光后浸蝕
往往可去除這個(gè)流變層。

    用塑料夾子夾住試樣后浸入合適的化學(xué)試劑里進(jìn)行浸蝕或采
用擦拭方法。浸蝕劑逐漸地使試樣表面層溶解并優(yōu)先使晶界腐
蝕。在多相合金中,各相腐蝕速度是不同的。即使在純金屬中,
各個(gè)晶粒腐蝕速度也會(huì)不同,它受磨面上的各晶粒位向的影響。

    若干常用金屬和合金顯微檢臉用的浸蝕劑











出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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