標(biāo)題：光學(xué)技術(shù)在測量表面紋理的應(yīng)用-光學(xué)分析顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-11-7 0:01:54
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正文:
先進(jìn)的光學(xué)技術(shù)所需要的集中光源被激光輕易地解決
了，從而使這種技術(shù)應(yīng)用于測量表面紋理成為可行。
一種方法是采用光學(xué)轉(zhuǎn)換，通過一個(gè)表面的透明復(fù)制品，
用一個(gè)光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生一種衍射的圖象，圖象包括一群亮度不
一的點(diǎn)。不必去了解這個(gè)方法的原理和如何使用其結(jié)果。這
些點(diǎn)的間距，相對亮度，大小和位置能與表面微觀不平度的
間距，周期性，幅度分布和加工紋理方向相聯(lián)系
光學(xué)轉(zhuǎn)換也巳用于相互關(guān)聯(lián)的處理方法，用以測定周
期性。這個(gè)信息的一種用途可以提一下:一個(gè)指定的切削加
工工序是在一套規(guī)定的加工條件下進(jìn)行的，如切削速度，進(jìn)
給速度和材料等將形成某種轉(zhuǎn)換的圖象。對名義上同樣條件
加工的表面的轉(zhuǎn)換圖象進(jìn)行快速核對時(shí)，只要看看有沒有這
些點(diǎn)就知道加工條件是否正確或相同。所以這種光學(xué)方法將
來可用于正在機(jī)床上加工的工件的測量。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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