標(biāo)題：微小長度及微小位移的測量稱為比較測量-比較顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-8-26 18:21:50
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正文:
在大尺寸和大位移測量中，是用標(biāo)準(zhǔn)尺等直接測盤被測
件，即由標(biāo)準(zhǔn)尺等指示出測量值。通常把這種測盤儀稱為指
示測量儀。
因此，把微小長度及微小位移的測量統(tǒng)稱為比較測量，把
大尺寸、大位移的測量統(tǒng)稱為指示測量，又稱絕對測量。
光學(xué)主動測量即光電轉(zhuǎn)換法。主要是通過光電轉(zhuǎn)換把測
得的光量轉(zhuǎn)換成電量。
這種測量方法，包括光學(xué)杠桿式(很早就用于精密測量)
及透鏡放大式，這兩種方法都屬于被動測量法。
此外可以把很小的光電元件，按直線形狀排列，取代刻度尺，
或者做成下節(jié)敘述的電碼標(biāo)尺取代刻度尺，這樣就能把長度最轉(zhuǎn)
換成脈沖盤或數(shù)字盤。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5966.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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