標(biāo)題：工件的表面粗糙度測(cè)量與觀察用工具型顯微鏡
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-8-26 14:22:34
將本頁(yè)加入收藏
下一篇：測(cè)量光學(xué)影像儀工件表面粗糙度的精度可達(dá)1μm
上一篇：顯微鏡常識(shí)-激光和普通光相比,光源不是自然發(fā)出
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
利用激光光點(diǎn)在工件表面反射測(cè)最粗糙度的方法有兩種，
一種是測(cè)量由于粗糙表面的傾斜而引起的反射角;另一種
是根據(jù)光點(diǎn)在祖糙表面反射時(shí)象點(diǎn)的變化來測(cè)最表面粗糙度。
前者稱反射角度測(cè)量法，后者稱光點(diǎn)位移測(cè)量法。此外
還有用激光光點(diǎn)做光切法測(cè)量的，經(jīng)過處理可以擴(kuò)大到二坐
標(biāo)的測(cè)量。用二坐標(biāo)排列的光電元件測(cè)量與表面粗糙度相對(duì)
應(yīng)的投射，并將投射象輸入工業(yè)用電視，再經(jīng)演算處理，即
可在加工中觀察表面粗糙度的二維形狀，還可以做硬拷貝。
當(dāng)入射光照射到被測(cè)工件表面上時(shí)，其反射光將射向熒
光屏，在熒光屏上就會(huì)觀察到特殊的斑紋隨機(jī)圖形。如果入
射光的光束直徑與表面波形的波長(zhǎng)比非常小，則反
射象不是隨機(jī)圖形，而呈點(diǎn)狀。此時(shí)反射象點(diǎn)的位
置取決于光的入射點(diǎn)處凹’凸表面傾斜角的大小，
因一此，測(cè)最反射象象點(diǎn)位置，就可以得出表面反
射傾斜角的大小(傾斜角的積分)，從而便可以得出工件的表面粗糙度。
由實(shí)驗(yàn)可知，對(duì)于波形完整的·、而且高頻振動(dòng)占主導(dǎo)的表
面，測(cè)址的效果較好。如果不充分地縮小光束，反射象一般不
呈點(diǎn)狀，而是雜亂的。所以提出了光點(diǎn)位移測(cè)量法。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5964.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商