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標題:金相顯微鏡檢測高質(zhì)量橫截面晶粒結(jié)構(gòu)

信息分類:站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時間:2014-6-6 15:16:11 將本頁加入收藏

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正文:

金相顯微鏡檢測高質(zhì)量橫截面晶粒結(jié)構(gòu)


金相學的檢查

檢查導體的晶粒結(jié)構(gòu)時,獲得高質(zhì)量橫截面的步驟。

樣品的制備山下列5個步驟組成:切片,安裝,研磨,拋光,蝕刻.

    導體變色是由熱暴露引起的,并且是被氧化和鍍覆材料被吸收到銅中的結(jié)果。

在稍高的溫度下、甚至在發(fā)生明顯的熱損壞之前,便可看到導線上特有的顏色變化。

雖然顏色的變化本身不重要,但在最初的目視檢查時,它們卻能為調(diào)查人員提供一些有
用的線索。在空難案例的“后碰撞型火災”中,各種化學混合物的存在能促使導體變










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