標題：電路板分析用便攜式光學顯微鏡-使用方便
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2014-6-5 1:12:01
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正文:
電路板分析用便攜式光學顯微鏡-使用方便
故障分析電測試的最佳途徑也是如此。首先進行非破壞性的電測試.收集測試
結果數(shù)據(jù)，然后再實施其有潛在破壞性的測試.由于DUA可能與正常的器件有所不
同，因此有時很難準確判斷哪些電測試可能具有潛在的破壞性。
以下是器件故障分析電氣特性表征的一般方法.假定關于DUA的故障類型僅有很
少或者沒有詳細資料。如果有一些詳細的信息可資利用，便應對下述方法做適當修改.
故障分析電測試的最一般的方法是以低電壓和小電流進行初始測試。當對器件
施加低電壓時，電流將被限定在一個很小的值上。隨著加上越來越高的電壓，便開始
流過明顯的電流。功耗應當受到限制并監(jiān)視電壓/電流特性的穩(wěn)定性。
帶有單獨的電板表和電流表的獨立電源通常難以滿足上述所有要求。然而，如果
采用曲線描繪儀，便可輕易地滿足所有這些要求。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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