標(biāo)題：入射光(金相)顯微鏡的光學(xué)設(shè)計(jì)有何特點(diǎn)
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2014-6-2 17:32:12
將本頁加入收藏
下一篇：樣品金相分析圖像顯微鏡型號(hào)及價(jià)格-優(yōu)質(zhì)光學(xué)儀器
上一篇：高倍金相顯微物鏡的用途都與哪些-金相制樣儀器
點(diǎn)擊查看產(chǎn)品參數(shù)和報(bào)價(jià)--丨--
---
---
---
正文:
干涉反差照明效應(yīng)由將光源分裂成參考光束和目標(biāo)光束的光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生
。在某些系統(tǒng)中，這些光束在樣品平面上被會(huì)聚到一起(目標(biāo)光束)，其他光
束則被聚焦到樣品的上方或下方.這類系統(tǒng)通常稱之為雙聚焦系統(tǒng)。(諾馬爾
斯基)差動(dòng)干涉反差照明系統(tǒng)利用改進(jìn)的剪切系統(tǒng)來形成參考光束和日標(biāo)光
束。在剪切系統(tǒng)中，兩條光束均被聚焦在樣品平面內(nèi)。
不過，它們?cè)谒椒较蛴形灰�，目�?biāo)光束對(duì)樣品照明，且在進(jìn)入目鏡之前重
新被組合。用于入射光(金相)顯微鏡的干涉反差照明方法率先由弗蘭肯(M.
Francon)創(chuàng)立，他將薩瓦特板(雙層石英.精體平板)用于產(chǎn)生分裂光束.這種
入射光顯微鏡干涉反差照明過程允許對(duì)一些三維目標(biāo)，如冶金樣品、塑料、
玻璃以及集成電路芯片的復(fù)合結(jié)構(gòu)進(jìn)行顯微觀察。這種方法可以被電子設(shè)備
故障分析入員十分有效地用于考察各種各樣的電子產(chǎn)品。
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
特別聲明：本文出自北京上光儀器有限公司-未經(jīng)允許請(qǐng)勿轉(zhuǎn)載，本文地址：http://www.bjsgyq.com/news/5688.html
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商