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標(biāo)題:光學(xué)顯微鏡可以用來(lái)觀察陶瓷顆粒顯微結(jié)構(gòu)

信息分類(lèi):站內(nèi)新聞   作者:yiyi發(fā)布   時(shí)間:2014-5-26 1:45:26 將本頁(yè)加入收藏

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正文:

光學(xué)顯微鏡可以用來(lái)觀察陶瓷顆粒顯微結(jié)構(gòu)

X射線衍射

    盡管光學(xué)顯微鏡可以用,但是正常情況下相分析是采用X
射線衍射(XRD)。通常XRD采用粉末試樣,然而平面固體也可
以。通常試樣需要1-1.5g,但隨著試樣夾具設(shè)計(jì)的變化,各種
試樣的尺寸需作相應(yīng)調(diào)整。粉末陶瓷技術(shù)的應(yīng)用,可測(cè)定非常
少量的粉末。在多相材料中,次要組分的量大于1%~2%.
才能檢測(cè)到。一旦知道腐蝕后陶瓷的礦物結(jié)構(gòu),對(duì)比未腐蝕的原
始材料,有助于確定腐蝕機(jī)理。

    盡管能夠定量XRD結(jié)果,其精度取決于試樣的準(zhǔn)備(晶體
方向起到重要作用)、標(biāo)準(zhǔn)使用的質(zhì)量以及注意減少系統(tǒng)誤差和
偶然誤差。

    主要問(wèn)題在于高溫顯微鏡區(qū)分多相時(shí),高溫
下峰變寬,各峰彼此之間界限模糊。











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