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正文:
干涉
顯微鏡的類(lèi)型,分別為反射型和透視型兩大類(lèi)
干涉顯微鏡和相差顯微鏡同樣是利用光線(xiàn)干涉的原理,所不
同的是:相差顯微鏡的兩干涉光線(xiàn)來(lái)自同一物體即試樣,通過(guò)試
樣產(chǎn)生直射光線(xiàn)和衍射光線(xiàn)。干涉顯微鏡的兩干涉光線(xiàn)分別來(lái)自
試樣和它周?chē)慕橘|(zhì)。相差顯微鏡由于光線(xiàn)衍射,在成象周?chē)a(chǎn)
生明暗的干涉條紋即光輪,干涉顯微鏡能夠避免這一點(diǎn)。
相差顯
微鏡兩束光線(xiàn)的相位不能任意改變,干涉顯微鏡兩束光線(xiàn)的相位
差可以連續(xù)改變。尤其重要的是,相差顯微鏡只能定性地反映試
樣所引起的光線(xiàn)相位的變化,而干涉顯微鏡可以定量地
測(cè)量這~
相位差。
干涉顯微鏡的形式很多,它分別為反射型和透視型兩大類(lèi),
反射型干涉顯微鏡用于研究不透明材料的表面凸凹情況,透射型
干涉顯微鏡用于研究透明材料的結(jié)構(gòu)特征或作某些專(zhuān)用測(cè)定。
透射型干涉顯微鏡大體上可以分雙光束干涉顯微鏡和多光束干涉顯
微鏡兩種,如迪生干涉顯微鏡,多光柬干涉顯微鏡等。
出自http://www.bjsgyq.com/
北京顯微鏡百科
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