標題：上光顯微砂粒顆粒圖像自動測量分析軟件廠商
信息分類:站內新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-12-16 16:00:24
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正文:
上光顯微砂粒顆粒圖像自動測量分析軟件廠商
有些樣品如泥質膠結的砂巖，不易松解。要測量其中
砂粒的粒度，
可將砂巖直接磨成片狀樣品，
也可在務使分散的條件下，將顆粒包埋在樹脂類物質中
成為塊狀樣品，磨光后對磨光面進行觀察測量。
此時應注意所謂截面效應的問題。透射顯微鏡測的是顆粒
的投影像，
而反射顯微鏡測量的是塊樣的磨光表面(即光反射面)對于顆粒
所截的輪廓像。對于包埋著許多球形顆粒的樣品，
磨光表面所截的圓的直徑會普遍小于球粒直徑。
透過顯微系統將圖像放大，在經過上海光學儀器一廠自行研發(fā)的圖形統計軟件
自動進行分析統計，省去很多繁瑣的工作量
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科