標(biāo)題：珠光體含量測(cè)定圖形分析應(yīng)用軟件-金相顯微鏡型號(hào)
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-12-9 23:53:22
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正文:
珠光體含量測(cè)定圖形分析應(yīng)用軟件-金相顯微鏡型號(hào)
除退火工藝影響退火組織外，較粗大的珠光體等都會(huì)給退火組織帶來(lái)缺陷。
凡此類缺陷及過(guò)熱組織均應(yīng)進(jìn)行正火工序消除后，再進(jìn)行球化退火處理。
球化不完善的退火組織，如硬度較高，可適當(dāng)降低溫度重新退火。
軸承零件退火后的顯微組織為細(xì)小，均勻分布的球化組織，
不允許有片狀珠光體存在。
檢驗(yàn)時(shí)，試樣須在退火狀態(tài)切取。退火組織須在500 x下評(píng)定，
允許在450x - 600x下迸行評(píng)級(jí)，但必須考慮到放大倍數(shù)的影響。
評(píng)級(jí)時(shí)，應(yīng)根據(jù)粒狀珠光體組織的顆拉大小，形狀和分布的均勻性，
按JB255-81技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)中第一級(jí)別圖進(jìn)行評(píng)定。
第2-4級(jí)為合格組織，不允許有第一級(jí)欠熱、第五級(jí)碳化物顆粒不均和第六級(jí)過(guò)熱組織。
第一級(jí) 點(diǎn)狀珠光體+部分細(xì)片狀珠光休
第二級(jí) 均勻分布的點(diǎn)狀珠光體+少量細(xì)粒狀珠光體
第三級(jí) 均勻分布的細(xì)粒狀珠光體
第四級(jí) 大小不均勻的粒狀珠光體.
第五級(jí) 粗大粒狀珠光體
第六級(jí) 大小和分布不均勻的粒狀珠光體+部分片狀珠光體
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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