標題：顯微鏡分辨率已從1μm發(fā)展到30nm再到0.5nm
信息分類:站內(nèi)新聞
作者:yiyi發(fā)布
時間:2013-12-7 16:47:55
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正文:
顯微鏡分辨率已從1μm發(fā)展到30nm再到0.5nm
光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡(TEM )、掃描電鏡(SEM )、掃描電聲顯微鏡(SEAM)、掃
描非線性介電顯微鏡(SNDM)、原子力顯微鏡(AFM)、掃描力顯微鏡(SFM )、
紅外或激光顯微技術(shù)等等，分辨率已從1μm發(fā)展到30nm再到0.5nm，
因而能更全面地從光性、電性、力學(xué)及熱學(xué)性能全方位、高精度地來了解材料，
使材料在功能方面應(yīng)用更趨于自由。目前，人們己從認識材料的顯微結(jié)構(gòu)，
發(fā)展到控制及制備材料的特定顯微結(jié)構(gòu)的階段
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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