標(biāo)題：高溫顯微鏡的原理及應(yīng)用,測(cè)定試樣熔點(diǎn)儀器
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作者:yiyi發(fā)布
時(shí)間:2013-11-25 23:46:15
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正文:
高溫顯微鏡的原理及應(yīng)用,測(cè)定試樣熔點(diǎn)儀器
高溫金相顯微鏡使用的熱浸蝕，也是部分基于輸入的熱能，使
原子由表面溢出。但熱浸蝕時(shí)的主要驅(qū)動(dòng)力，是以表面張力
最小的各個(gè)晶粒形成輕微拱狀平衡表面。
用霧化的干涉層看清組織，雖然也屬于光學(xué)浸蝕方法，但
因其無(wú)需改動(dòng)金相顯微鏡光程，而只需處理拋光好的試樣表面，與
真正的光學(xué)浸蝕方法有別，
試樣表面在真空中霧化，形成有干涉能力的薄層。用具
有高折射指數(shù)的物質(zhì)，如ZnSe, TiO2,等作為薄層材料。這種
干涉層的作用在于，經(jīng)過干涉而減弱的波長(zhǎng)，在目的物一霧化
層界面上經(jīng)受多倍反射，從而提高組織之間的反差。
最近有所謂的氣體反應(yīng)器出售，
可用以進(jìn)行很精確的霧化并可用金相顯微鏡控制
出自http://www.bjsgyq.com/北京顯微鏡百科
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北京地區(qū)金相顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
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